隨著現(xiàn)代化工業(yè)的發(fā)展，二維激光掃描儀作為高精度、高響應的非接觸測量儀器，在光電技術檢測領域得到了廣泛的應用。其采用的激光三角法原理在理論上已相當成熟，但在實際應用中還有一定的困難。由于三角法建立在理想成像的基礎之上，所以三角法能否準確實現(xiàn)還要依賴于所采用的光學系統(tǒng)。

　　二維激光掃描儀利用激光技術進行反饋信號的傳感器，二維激光掃描儀組成部分由激光發(fā)射器、檢測器及測量模塊，二維激光掃描儀利用激光的高方向性、單色和高亮度的優(yōu)點，實現(xiàn)了速度快、無接觸、精度高、測量距離長、抗干擾等特點，是一款新型的測距離傳感器產(chǎn)品。

　　二維激光掃描儀的原理：傳感器的工作是基于光學三角測量原理。

　　半導體激光發(fā)生器發(fā)出的光，經(jīng)透鏡形成X平面光幕，并在物體上形成一條輪廓線，鏡片收集被物體反射回來的光并將其投影到一個二維CMOS數(shù)組,這樣形成的目標物體剖面圖形被信號處理器分析處理，輪廓線的長度用X軸計量，輪廓線的高低用Z軸計量。

　　二維激光掃描儀常用與尺寸測量、長度、震動、速度等，包括無人機測到地面距離、掃地機器人位置定位、工業(yè)機器人機械臂位置定位、高速運動中的車輛識別、移動物體的檢測識別定位等。

　　二維激光掃描儀根據(jù)入射光角度的不同可分為直入射式和斜入射式兩種，本設計采用的是直入射式，其光路結構如圖1所示。整套光路可以分為兩部分，即整形系統(tǒng)和接收系統(tǒng)。左邊部分是光束整形系統(tǒng)，其作用是將激光器發(fā)出的光束匯聚在工作范圍內(nèi)，使匯聚的光斑盡量小而均勻。光源為半導體激光器(LD)，它經(jīng)整形系統(tǒng)在測量范圍50±10mm內(nèi)形成均勻的光斑。后面則是光束接收系統(tǒng)，它將物體表面的漫反射光匯聚到光敏探測器上，使其成像。